S neox光學輪廓儀的測量策略與復雜表面應對

Name: S neox光學輪廓儀的測量策略與復雜表面應對
Brand: 其他品牌
Price: 1600000 CNY
Availability: InStock

產品簡介

S neox光學輪廓儀的測量策略與復雜表面應對
實際工業(yè)生產中的樣品表面往往復雜多樣，可能同時包含光滑與粗糙區(qū)域、高反光與吸光材質、平坦區(qū)域與高陡坡結構。

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更新時間：2026-03-06

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S neox光學輪廓儀的測量策略與復雜表面應對

實際工業(yè)生產中的樣品表面往往復雜多樣，可能同時包含光滑與粗糙區(qū)域、高反光與吸光材質、平坦區(qū)域與高陡坡結構。

Sensofar S neox非接觸式粗糙度輪廓儀通過其多技術平臺和靈活的測量策略，為應對這些復雜表面提供了方案。

其核心技術優(yōu)勢在于將共聚焦和白光干涉技術集成于一體。共聚焦技術對陡峭邊緣、粗糙表面有較好的測量能力，且受表面反射率變化影響較小；而白光干涉技術則在測量光滑、連續(xù)表面時具有更高的垂直分辨率。對于混合表面，用戶可以在一次測量中，針對不同區(qū)域選擇最合適的技術，或者通過軟件智能推薦獲得更佳測量結果。

面對高反射表面（如拋光金屬鏡面）容易過曝的挑戰(zhàn)，儀器提供光強自動/手動調節(jié)功能，并可選配偏振器附件來抑制強反射光，從而獲得清晰的干涉條紋或圖像。

對于具有高深寬比結構（如深槽、高臺階）的樣品，高數(shù)值孔徑（NA）的物鏡有助于提升橫向分辨率和對陡坡的響應。其5軸運動系統(tǒng)（如果配置）允許傾斜樣品，使測量光束能更好地入射到側壁，從而改善此類特征的測量效果。

在測量透明或多層薄膜材料時，需要考慮下層界面的反射干擾。此時，共聚焦模式因其光學層析能力可能更為適用，或者可以利用軟件中的透明材料校正算法，在輸入折射率參數(shù)后對測量結果進行補償。

通過靈活運用這些技術特性和測量策略，Sensofar S neox能夠適應廣泛的材料類型和表面狀態(tài)，為研發(fā)和質量控制提供更可靠的三維表面數(shù)據(jù)。

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