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技術文章
TECHNICAL ARTICLES
更新時間：2025-02-17
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新世代的大范圍計量工具
S wide 是專用系統，適用于快速測量大樣品區(qū)域，測量面積最高可達 300 x 300 mm。它具有集成了數字顯微鏡的高分辨率測量儀器的所有優(yōu)點。一鍵式采集功能，易于使用。
解決方案
大面積3D光學測量系統
先進制造業(yè)
考古學與古生物學
消費類電子產品
醫(yī)療設備
模塑
光學
鐘表業(yè)
關鍵特性
整個拼接擴展區(qū)域都擁有亞微米高度重復性。
無需Z軸掃描即可測量最高40mm的單次測量高度。
具有極低場失真的雙側遠心鏡頭，提供精確的測量。
與3D CAD模型的形狀偏差 提供幾何差異和公差測量
可追溯性
表面紋理測量儀器的校準
我們的所有系統精心制造，提供準確、可追溯的測量。系統按照符合ISO 25178第 7 部分關于下列參數的指南的可追溯標準進行校準：Z 放大系數、XY 橫向尺寸、平面度誤差以及偏心度。
