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Sensofar S wide小空間適配的高性價測量儀 很多用戶擔心 “大視野測量儀必然體積大、占空間”,但 Sensofar S wide 在設計時兼顧了 “大視野性能” 與 “緊湊結構”,即使是空間有限的實驗室或產線工位,也能輕松容納。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S-wide
瀏覽量:212
Sensofar S wide:讓大事業數據賦能產研 在材料、光學等科研領域,研究人員常需要同時掌握樣品的全局狀態與局部細微變化,Sensofar S wide 的大視野與細節捕捉能力,能為這類研究提供全面的數據支撐,避免傳統設備 “顧此失彼” 的局限。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S-wide
瀏覽量:196
Sensofar S wide:新手的協作型測量儀 對很多用戶來說,大視野測量設備的操作門檻常讓人卻步,但 Sensofar S wide 在設計時就注重 “簡化操作”,從開機到出結果,核心步驟清晰易懂,即使是初次接觸的新手,也能快速上手。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S-wide
瀏覽量:187
Sensofar S wide:難測樣品也能輕松應對 在光學行業檢測透明樣品(如大尺寸玻璃蓋板、光學鏡片、透明薄膜)時,傳統設備常因表面反光導致數據失真,而 Sensofar S wide 通過專屬光學設計,能輕松應對這類難題,無需額外加裝復雜附件。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S-wide
瀏覽量:195
Sensofar S wide一次掃全大尺寸樣品測量儀 在檢測大尺寸樣品(如電路板、光學鏡片、模具型腔)時,傳統 3D 輪廓儀常因視野有限,需要多次掃描后拼接數據,不僅耗時久,還可能因拼接偏差影響結果準確性。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S-wide
瀏覽量:184
Sensofar在半導體晶圓薄膜厚度測量中的應用 Sensofar?S?neox 通過 4?in?1 光學技術(共聚焦、白光干涉、多焦面疊加、光譜反射)實現對晶圓薄膜的非接觸、亞納米級厚度測量。以下從測量原理、典型案例、操作流程、數據輸出四個維度展開說明。
更新時間:2026-01-07
產品型號:S?neox
瀏覽量:212