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Sensofar S neox的核心特性
產(chǎn)品簡介
Sensofar S neox的核心特性在微觀尺度上對材料表面進(jìn)行測量,如何在不干擾、不損傷樣品的前提下獲取真實(shí)形貌信息,是一個核心考量。
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Sensofar S neox的核心特性
在微觀尺度上對材料表面進(jìn)行測量,如何在不干擾、不損傷樣品的前提下獲取真實(shí)形貌信息,是一個核心考量。
其次,非接觸測量避免了樣品污染與儀器磨損。在半導(dǎo)體、光電子及精密光學(xué)行業(yè),晶圓、光掩模、gao 端光學(xué)元件等產(chǎn)品的表面必須保持極gao潔凈度,任何微小接觸或污染都可能引發(fā)器件失效。Sensofar S neox的光學(xué)測量方式wan 全無接觸、無污染,非常適合于這類高價值、高敏感產(chǎn)品的在線或離線檢測。同時,由于沒有機(jī)械運(yùn)動部件的直接摩擦損耗,設(shè)備本身的長期穩(wěn)定性也得到支持。
Sensofar S neox的核心特性
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