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產品簡介
白光干涉儀S neox的涂層厚度測量:Sensofar S neox通過非接觸式臺階高度測量,可精確量化涂層或薄膜的厚度與均勻性,為質量控制和工藝研究提供關鍵數據。
產品分類
需要注意的是,此方法需要制備一個清晰的臺階,且測量結果的有效性取決于臺階邊緣的質量。對于非常硬或脆的涂層,制備清晰臺階可能需要技巧。對于多層膜結構,測量會變得復雜。
盡管如此,對于許多常見的涂層,Sensofar S neox提供了一種有效的厚度測量方案。它將厚度測量轉化為精確的臺階高度測量,為涂層工藝的質量控制和研究開發提供了一種可供選擇的手段。