白光干涉儀S neox的成像清晰度探秘

產品簡介

白光干涉儀S neox的成像清晰度探秘：Sensofar S neox通過高精度物鏡、智能光源控制及共聚焦針孔技術，確保從宏觀到微觀的成像清晰度，為三維形貌重建提供高對比度、低噪聲的原始數據保障。

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更新時間：2025-11-11

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白光干涉儀S neox的成像清晰度探秘

一臺光學測量儀器的最終輸出質量，很大程度上取決于其獲取的原始圖像的清晰度。模糊或對比度低的圖像會導致對焦困難、測量邊界識別不準，最終影響三維形貌數據的可靠性。Sensofar S neox 3D光學輪廓儀能夠提供細節清晰、對比度高的光學圖像和高質量的三維數據，得益于其在光學系統設計和成像處理技術上的綜合考慮。

光學系統的核心是物鏡。S neox提供一系列經過優化的物鏡可供選擇，涵蓋從低倍（如2.5倍）的大視野觀察到高倍（如150倍）的精細測量。這些物鏡旨在減小像差，提供平坦的視野和高的分辨率，確保在整個視場內都能獲得清晰的圖像。自動物鏡轉盤允許在不同倍率間快速切換，而軟件通常能記憶每個物鏡的校準參數，保證測量尺度的一致性。

照明的均勻性和可控性對成像質量同樣重要。S neox采用LED冷光源，壽命長且亮度穩定。其光強可以自動或手動精細調節，以適應不同反射率的樣品，避免過曝或信號過弱。此外，儀器還可選配不同的照明模式，如環狀光、斜照明等，以增強特定結構的對比度。例如，斜照明可以凸顯表面的劃痕和紋理，便于缺陷檢測。

在共聚焦模式下，S neox利用共聚焦針孔來抑制焦平面以外的雜散光，這是其獲得光學切片能力和高對比度圖像的關鍵。即使在不用于三維掃描而僅作為高倍率觀察工具時，其共聚焦圖像也通常比傳統光學顯微鏡具有更好的清晰度和景深擴展效果。

對于白光干涉模式，干涉條紋的對比度直接決定了重建三維形貌的精度。S neox的光路設計致力于獲得高對比度、穩定的干涉條紋。其內部可能采用的光學校正和光譜分析技術，有助于優化干涉信號的質量，即使在測量具有一定粗糙度或輕微傾斜的表面時，也能獲得有效的干涉數據。

最后，高性能的攝像頭是捕獲清晰圖像的硬件基礎。S neox配備科學級的數字攝像頭，具有高分辨率、高動態范圍和低噪聲的特點，能夠捕捉豐富的圖像細節。

綜上所述，Sensofar S neox的成像清晰度并非單一技術的結果，而是其高質量的光學組件（物鏡、光源、攝像頭）、合理的機械光路設計以及針對不同測量模式（共聚焦、干涉）的專門優化共同作用的體現。清晰的成像不僅是精確測量的前提，也使用戶在操作過程中能更準確、更自信地進行定位和判斷，提升了整個測量體驗的可靠性。

白光干涉儀S neox的成像清晰度探秘

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