sensofar3D 共聚焦白光干涉測電子元件表面
在電子元件制造領域，元件表面的微觀結構與輪廓精度直接影響電子設備的性能與穩定性。從電容器的電極表面粗糙度，到連接器的接觸點形態，再到顯示屏的像素結構，都需要通過細致的表面檢測確保質量。Sensofar 新型 3D 共聚焦白光干涉光學輪廓儀 S neox，憑借對微觀表面的精準成像與三維輪廓分析能力，成為電子元件表面檢測的實用工具，為電子元件制造質量把控提供支持。
電子元件的表面特性多樣，不同元件的檢測需求存在差異。電容器的電極表面若粗糙度過高，會影響電極的電容性能與使用壽命；連接器的接觸點若存在變形或磨損，可能導致電路接觸不良；顯示屏的像素表面若存在凸起或凹陷，會影響顯示效果的均勻性。傳統的電子元件檢測方式如光學顯微鏡，僅能提供二維圖像，無法獲取三維輪廓信息，難以準確判斷表面缺陷；而接觸式測量儀器可能對元件表面造成損傷，尤其是對于脆弱的電子元件。S neox 通過 3D 共聚焦白光干涉技術，采用非接觸式檢測方式，既能精準獲取元件表面的三維輪廓數據，又能避免對元件造成損傷，滿足電子元件的檢測需求。
在電容器電極表面檢測中，S neox 展現出高效與精準的特點。檢測人員將電容器電極樣品放置在 S neox 的載物臺上，儀器可快速對電極表面進行掃描，生成高分辨率的三維圖像。通過軟件分析，能計算出電極表面的粗糙度參數，如 Ra 值，同時觀察到電極表面的微小顆粒與凹陷。例如，在檢測鋁電解電容器的電極時，S neox 發現部分電極表面存在微小顆粒，這些顆粒會導致電極之間的絕緣性能下降，據此調整電極清洗工藝，有效減少了顆粒數量，提升了電容器的性能穩定性。
在連接器接觸點檢測環節，S neox 的三維輪廓分析能力發揮重要作用。連接器接觸點的形態與高度若存在偏差，會影響電流傳輸效率。傳統檢測難以準確測量接觸點的三維尺寸，而 S neox 通過掃描可獲取接觸點的高度、直徑以及表面平整度數據。檢測人員通過對比標準數據，能快速識別出接觸點的異常區域，如接觸點高度不足或表面存在劃痕。例如，在檢測 USB 連接器的接觸點時，通過 S neox 發現一批接觸點的高度低于標準值，及時調整沖壓工藝參數，避免了因接觸不良導致的連接器失效問題。
某電子元件制造企業在引入 Sensofar S neox 后，產品檢測效率與質量顯著提升。此前，該企業對顯示屏像素表面的檢測依賴人工抽檢，檢測效率低且易遺漏缺陷。引入 S neox 后，可實現顯示屏像素表面的批量檢測，快速識別出像素表面的凸起、凹陷等缺陷，檢測效率提升至原來的三倍。在電容器生產中，通過 S neox 對電極表面進行全面檢測，將產品合格率提升，減少了因電極質量問題導致的電容器報廢。
在電子元件領域，Sensofar 新型 3D 共聚焦白光干涉光學輪廓儀 S neox 以其非接觸式檢測、高效精準的特點，成為電子元件表面檢測的可靠伙伴。它幫助企業把控電子元件制造質量，提升產品性能與穩定性，推動電子產業向更高質量、更高效的方向發展。sensofar3D 共聚焦白光干涉測電子元件表面
當前位置：
相關文章
上一個：
返回列表
服務熱線：
公司地址：
公司郵箱：
產品簡介
產品分類