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產品簡介
Sensofar三維光學輪廓儀多技術融合測量平臺Sensofar S neox 0.65X白光干涉儀不只是一臺單一功能的測量設備，它創新性地將多種光學測量技術融合在一個平臺。
產品分類
Sensofar三維光學輪廓儀多技術融合測量平臺
Sensofar S neox 0.65X白光干涉儀不只是一臺單一功能的測量設備，它創新性地將多種光學測量技術融合在一個平臺。這種集成設計讓用戶無需更換硬件，就能根據樣品特性選擇適合的測量模式，大大提升了設備的適用性和工作效率。
白光干涉測量模式是這款設備的核心功能之一。該技術使用白光掃描光滑到中等粗糙表面的表面高度，達到納米級的高度分辨率。它基于白光短相干特性，分光鏡將光源分為參考光與測量光，反射后合并產生干涉條紋，系統通過垂直掃描捕捉信號重建形貌。
共聚焦模式則提供了較高的橫向分辨率。該技術可以用來測量各類樣品表面的形貌。當需要測量局部斜率較大的表面時，共聚焦模式能夠保持測量的穩定性。
Ai多焦面疊加模式專為測量非常粗糙的表面形貌而設計。該技術的亮點包括較快的掃描速度、較大的掃描范圍和支援斜率大的表面。此功能對工件和模具測量特別有用。
這些測量模式之間的切換十分簡便。用戶無需插拔任何硬件就可以在軟件內自動實現不同模式的切換，使客戶無需花費高昂的費用就能同時擁有多種測量設備的功能。
核心參數表
| 項目 | 參數 |
|---|---|
| 型號 | S neox 0.65X |
| 測量模式 | 白光干涉、共聚焦、Ai多焦面疊加 |
| 模式切換 | 軟件內自動切換，無需更換硬件 |
| 適用范圍 | 光滑表面、粗糙表面、大斜率表面 |
多技術的融合使S neox 0.65X能適應多種表面類型的測量需求。Sensofar三維光學輪廓儀多技術融合測量平臺