探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡操作說明簡介

ZEM20的操作流程經過精心設計，力求簡潔直觀。開機順序依次為：打開主機電源、啟動計算機、運行控制軟件。軟件啟動后會自動進行設備自檢，確認各系統狀態正常。樣品裝載過程簡單：點擊軟件中的"放氣"按鈕，待樣品室氣壓與外界平衡后，輕輕拉開艙門，將樣品座放置在樣品臺上，順時針旋轉鎖定即可。

開始觀察前，需要*行基本設置。在軟件界面選擇合適的工作模式，包括高真空模式、低真空模式（若選配）和減速模式。根據樣品特性設置加速電壓，通常導電樣品選擇10-15kV，非導電樣品選擇5-10kV。探頭設置中可根據需要開啟二次電子探測器或背散射電子探測器。

調校過程中，首先使用低倍數（如100倍）尋找感興趣區域，然后逐步提高放大倍數。在1000倍以上觀察時，需要進行焦距和像散校正。軟件提供自動對焦功能，也可手動精細調節。拍攝圖像時，建議根據需求選擇合適的掃描速度和幀平均次數，平衡圖像質量和獲取時間。

ZEM20的操作流程簡潔，適合非專業用戶。首先，開啟電源并啟動控制軟件，裝入樣品后啟動真空系統。待真空就緒后（通常需數分鐘），加載加速電壓。通過鼠標雙擊樣品導航圖選擇觀察區域，將樣品移至視野中心。調節焦距時，先尋找特征點（如棱角結構），旋轉焦距旋鈕直至圖像邊緣銳利。若圖像出現像散，需交替調節X軸與Y軸像散旋鈕，并結合焦距調整，重復至圖像清晰。接下來，進行光闌對中：點擊Align中的Aperture alignment，若圖像晃動，調節X和Y參數至穩定。最后，在軟件中選擇掃描模式（如Line Avg），設置掃描速度與圖像分辨率，點擊Capture拍照保存。全程可通過艙內攝像頭輔助監控。探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡操作說明簡介