Sensofar數據處理：從采集到分析的全流程

產品簡介

Sensofar數據處理：從采集到分析的全流程
Sensofar S neox 的測量價值不僅在于數據采集，更通過完善的軟件系統實現數據處理、分析與追溯的全流程管理。

產品型號：S neox

更新時間：2025-10-23

廠商性質：代理商

訪問量：128

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Sensofar數據處理：從采集到分析的全流程

Sensofar S neox 的測量價值不僅在于數據采集，更通過完善的軟件系統實現數據處理、分析與追溯的全流程管理。

數據采集階段，設備通過多技術融合實現高維度數據獲取。RGB 三色 LED 光源同步采集形貌與色彩信息，多波長干涉技術同時獲取膜厚分布與材料折射率，避免多次測量導致的誤差疊加。量子點增強型 CMOS 傳感器以 180 幀 / 秒的速度采集信號，結合動態干涉條紋分析功能，可記錄材料結構的實時變化數據。采集的原始數據以.sfc 格式存儲，同時支持導出為.stl、.mat、.csv 等通用格式，方便后續第三方軟件分析。

數據處理依賴智能算法與軟件功能。相位解包裹算法提升縱向測量精度至 0.05nm，能精準解析納米級薄膜的厚度變化。實時環境補償算法則對采集數據進行振動、溫度校正，減少環境干擾影響。SensoSCAN 軟件內置多種分析模塊，可自動計算粗糙度（Ra、Rq）、臺階高度、孔隙率等參數，生成 2D 輪廓圖與 3D 形貌模型。

科研場景下，數據追溯功能尤為重要。軟件自動記錄每次測量的設備狀態參數，包括光源強度、物鏡倍率、環境溫度、濕度等，與測量數據綁定存儲，便于后期追溯實驗條件，確保結果可重復驗證。工業場景中，數據可與 MES 系統對接，實現檢測結果與生產批次的關聯管理，助力質量追溯與工藝優化。

數據處理全流程參數表

流程階段	核心功能	輸出結果
數據采集	多技術同步采集	形貌 + 色彩 + 膜厚數據
數據校正	環境補償 + 相位解包裹	校正后原始數據
數據分析	粗糙度 / 臺階高度計算	2D 輪廓圖 + 3D 模型 + 參數報告
數據管理	格式導出 + 條件追溯	多格式文件 + 關聯參數日志