在現代半導體制造中，晶圓缺陷的早期發現與快速定位是保證良率的關鍵環節。DM8000M 通過其大尺寸載物臺、自動掃描與高分辨率成像能力，已在多家 8?inch 產線中得到廣泛應用。徠卡顯微鏡在半導體生產線的典型應用

案例一：光刻后缺陷檢測

某光刻廠使用 DM8000M 對光刻后晶圓進行暗場掃描，系統自動識別出直徑 0.4?µm 以上的顆粒缺陷。通過軟件生成的缺陷熱圖，工程師快速定位到光刻膠涂布不均的區域，隨后調整涂布參數，缺陷率下降約 12%。

案例二：金屬沉積層厚度均勻性檢查

在金屬沉積工藝中，DM8000M 通過斜照光模式配合 20× 物鏡，對沉積層的表面形貌進行快速評估。利用軟件的高度測量插件，測得沉積層厚度波動在 ±0.15?µm 范圍內，滿足工藝規范。

案例三：封裝前晶圓清潔度評估

封裝前的晶圓清潔度直接影響后續鍵合質量。使用 DM8000M 的明場模式，配合 5× 物鏡對全晶圓進行快速掃描，系統自動統計表面顆粒數量并生成清潔度報告，幫助質量部門制定清潔工藝改進計劃。

產線集成要點

• 自動化接口：通過 OPC-UA 接口將檢測結果實時推送至 MES 系統，實現缺陷數據的自動記錄與追溯。

• 空間布局：DM8000M 體積約 1.2?m?×?0.8?m?×?1.5?m，適合在潔凈室 4?級以上的檢測區布置。

• 維護周期：建議每 3 個月進行一次光源強度校準，每 6 個月進行機械部件的潤滑檢查。

通過上述實際案例可以看出，DM8000M 在不同工藝節點的檢測需求中均能提供快速、可靠的圖像與數據支持，幫助企業實現工藝優化與良率提升。

徠卡顯微鏡在半導體生產線的典型應用