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DM1750M研究級金相顯微鏡技術特點?

產品簡介

DM1750M研究級金相顯微鏡技術特點?
徠卡DM1750M采用無限遠校正光學系統,搭配高數值孔徑(NA)物鏡,最高分辨率可達0.4μm。支持明場、暗場、偏光、微分干涉(DIC)等多種觀察模式,適用于高精度材料分析。

產品型號:
更新時間:2025-10-21
廠商性質:代理商
訪問量:157
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DM1750M研究級金相顯微鏡技術特點

專業級光學與成像系統

徠卡DM1750M采用無限遠校正光學系統,搭配高數值孔徑(NA)物鏡,最高分辨率可達0.4μm。支持明場、暗場、偏光、微分干涉(DIC)等多種觀察模式,適用于高精度材料分析。

關鍵性能參數

  • 物鏡:5×至150×,NA值最高達0.9,支持長工作距離和油鏡觀察。

  • 照明:100W鹵素光源,色溫可調,適用于不同樣品對比度需求。

  • 電動化組件:6孔電動物鏡轉盤,切換精度±1μm,減少手動操作誤差。

高級功能與應用

1.自動對焦系統:可搭配激光輔助對焦,適用于表面粗糙樣品的快速成像。

2.熱臺聯用:支持高溫原位觀察,最高可達1000℃(需選配環境箱)。

3.3D形貌重建:通過Leica LAS軟件實現微米級表面輪廓測量。

典型研究案例

  • 高溫合金分析:觀察鎳基合金在高溫下的相變行為。

  • 復合材料檢測:分析纖維增強材料的界面結合狀態。

  • 失效分析:識別金屬疲勞裂紋的擴展路徑。

操作與維護指南

  • 開機后預熱10分鐘,確保光源穩定性。

  • 使用油鏡后需及時清潔,避免鏡油殘留。

  • 定期校準電動載物臺,保證定位精度。

徠卡DM1750M憑借其高分辨率和擴展性,成為材料科學研究的重要工具。

徠卡DM1750M采用無限遠校正光學系統,搭配高數值孔徑(NA)物鏡,最高分辨率可達0.4μm。支持明場、暗場、偏光、微分干涉(DIC)等多種觀察模式,適用于高精度材料分析。

DM1750M研究級金相顯微鏡技術特點


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