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Sensofar S neox：多模式測量平臺 Sensofar S neox 3D光學輪廓儀的設計理念是集成與靈活。它并非單一技術儀器，而是一個將共聚焦成像、白光干涉（VSI）和相移干涉（PSI）三種核心技術融于一身的多模式測量平臺.
更新時間：2025-10-22
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瀏覽量：159
探索Sensofar光學輪廓技術 Sensofar Metrology作為光學測量領域的參與者，其S neox和LIN系列三維光學輪廓儀集成了多種光學測量技術，包括共聚焦、白光干涉（VSI）和相移干涉（PSI），為微觀表面的三維形貌測量提供了多樣的解決方案。
更新時間：2025-10-22產品型號：瀏覽量：149
詳解布魯克ContourX系列輪廓儀核心技術 布魯克ContourX系列三維光學輪廓儀的測量能力，源于其核心的白光干涉技術（WLI）和穩健的機械設計。理解這些技術細節，有助于用戶更好地發揮儀器的潛能。
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更新時間：2025-10-22產品型號：ContourX-100瀏覽量：202布魯克ContourX系列輪廓儀平衡性能與靈活性 在需要處理較大型工件的研發與質量檢測環節，對測量設備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-500三維光學輪廓儀正是為滿足此類需求而設計。
更新時間：2025-10-22產品型號：ContourX-200瀏覽量：155布魯克ContourX 輪廓儀應對大尺寸樣品測量 在需要處理較大型工件的研發與質量檢測環節，對測量設備的樣品容量提出了要求。布魯克ContourX-500三維光學輪廓儀正是為滿足此類需求而設計。
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