在微觀尺度上，材料向我們展示的不是絢麗色彩，而是一幅幅富含信息的黑白圖像。澤攸科技的掃描電鏡技術，正是解讀這些黑白密碼的關鍵工具，讓材料的成分、結構與演變過程一目了然。

澤攸科技的ZEM系列掃描電鏡系統支持二次電子（SE）與背散射電子（BSE）信號同時采集，并能按任意比例混合成像，實現形貌與成分信息的wan美融合。

在鈣鈦礦太陽能電池的研究中，澤攸科技掃描電鏡通過BSE模式清晰展示了材料的層狀結構，不同灰度區域對應不同材料成分，為器件性能優化提供了直觀依據。

鈣鈦礦太陽能電池的SE和BSE模式下的對比圖

對于硫磺樣品，SE圖像突出表面形貌細節，而BSE圖像則顯示成分均勻性，兩種信號的對比分析為材料質量控制提供了全面信息。

硫磺的SE和BSE模式下的對比圖

傳統SEM提供的是材料在某一時刻的靜態快照，而澤攸科技的原位SEM技術則將時間維度引入觀察中，讓研究者能夠親眼目睹材料在外部條件下的實時演變。

金屬玻璃剪切帶行為研究

利用澤攸科技原位SEM，研究者對金屬玻璃進行了不同拉伸加載階段的實時觀察，清晰記錄了剪切帶的形成、擴展與阻擋過程。

利用澤攸科技原位SEM對金屬玻璃在不同拉伸加載階段的圖像觀察，顯示剪切帶的阻擋情況

彈性體材料壓縮行為分析

對彈性體光刻膠進行原位壓縮測試，澤攸科技系統能夠記錄材料在不同壓縮階段的微觀結構變化。

利用澤攸科技原位SEM對彈性體光刻膠進行原位壓縮測試

Ti65合金高溫力學性能研究

通過澤攸科技原位系統，研究者對比了Ti65合金在室溫與高溫下的拉伸行為，不僅觀察了斷裂表面的形貌差異，還捕捉到了晶粒間滑移傳遞的動態過程。

利用澤攸科技原位SEM對Ti65合金進行拉伸測試：(a) 室溫拉伸測試的斷裂表面；(b) 高溫拉伸測試的斷裂表面

更深入的研究還揭示了Ti65合金在室溫（a-c）和高溫（d-f）拉伸測試過程中，兩組選定晶粒之間的滑移傳遞行為差異。

Ti65合金在室溫（a-c）和高溫（d-f）拉伸測試過程中兩組選定晶粒之間的滑移傳遞行為

澤攸科技在原位附件設計中特別注重成像穩定性與加載條件的協同控制。通過減少樣品轉移環節，確保實驗條件的一致性，提供可靠、可重復的實驗數據。

澤攸科技TEC冷臺案例圖

從支持雙信號采集的ZEM系列掃描電鏡，到完整的原位附件生態系統，澤攸科技為材料科學研究提供了從靜態觀察到動態分析的全套解決方案。無論是基礎材料表征，還是前沿的動態過程研究，澤攸科技的技術都能幫助研究者更深入、更全面地理解材料行為。

在微觀世界的探索道路上，澤攸科技以其創新的技術和穩定的性能，正成為越來越多研究者的shou選合作伙伴，讓材料的每一個微觀細節都變得清晰可見。