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當前位置:首頁技術文章Sensofar共聚焦白光干涉儀光譜反射技術

Sensofar共聚焦白光干涉儀光譜反射技術

更新時間:2024-11-25點擊次數:655

薄膜

透明層沉積在表面上時,其反射率會變化。該系統獲取可見范圍內樣本的反射光譜,并與軟件計算的模擬光譜進行比較,對層厚進行修改,直到找到匹配的厚度。對于薄膜,厚度與光波長類似,我們沿著光譜獲得波浪狀的反射率響應。

主要特征

從 50 nm 到 1.5 μm 厚的透明薄膜可在不到 5 秒的時間內測得

從 50 nm 到 1.5 μm 厚的透明薄膜

不到 5 秒內采集

一個物鏡可覆蓋 整個 范圍

不同光斑大小 (3.5 μm 到 40 μm) 


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